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簡要描述:狹縫掃描光束分析儀NanoScan 2, 源自2010 年加入OPHIR 集團(tuán)的PHOTON INC。PHOTON INC 自1984 年開始研發(fā)生產(chǎn)掃描式光束分析儀,在光通訊、LD/LED 測試等領(lǐng)域享有盛名。掃描式與相機式光斑分析儀的互補聯(lián)合使得OPHIR可提供完備的光束分析解決方案
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品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
掃描式光束分析是一種經(jīng)典的光斑測量技術(shù),通過狹縫/ 小孔取樣激光光束的一部分,將取樣部分通過單點光電探測器測量強度,再通過掃描狹縫/ 小孔的位置,復(fù)原整個光斑的分布。
狹縫掃描光束分析儀NanoScan 2 狹縫掃描光束分析儀NanoScan 2
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